ספקטרומטר לאנליזת יסודות
מכשיר ICP יכול לזהות את רוב היסודות הקיימים (חוץ ממימן, פחמן, חמצן, חנקן ופלואור) וגם לקבוע כמותית את ריכוזם בתמיסה ביחידות מ"ג לליטר ((ppm. ICP משתמש בספקטרום פליטה אטומית
( Atomic Emission,AE). המכשיר מודד את האנרגיה הנפלטת כאשר אטום עובר ממצב מעורער למצב יסוד. האנרגיה נפלטת בצורת קרינה. לכל יסוד יש אורכי גל אופייניים. העוצמה של הקרינה הנפלטת נמצאת ביחס ישר למספר האטומים של היסוד.
המכשיר במרכז הוא מדגם SPECTRO ARCOS ICP-OES Multi view .
הבדיקה מתבצעת בתמיסה מימית הומוגנית. ניתן גם לבדוק בתמיסה חומצית או בסיסית מהולה- עד 10% חומצה או בסיס. ניתן לבצע את הבדיקה גם בממס אורגני פולרי בתנאי שהוספת מים לתמיסה לא תגרום למשקע.
בשלב זה לא ניתן לבדוק תמיסות אורגניות לא פולריות עד שיירכש ציוד מיוחד לכך.
לפרטים: ד"ר מירב צוברי
contact |
Service |
Instrument |
Technology |
Dr. Merav Tsubery |
Detection of different elements (above 70 elements), including halogens (Cl, Br & I) using the ICP technique |
SPECTRO ARCOS ICP-OES Multi view FHX22
|
ICP-AES
|
Dr. Merav Tsubery |
detection of the elements C,H,N,S and O |
Elementar UNICUBE |
CHNSO |
- טופס בדיקות עבור PDF) (DOC) ICP)
- טופס בדיקות עבור אנליזת יסודות PDF) (DOC) CHNS)
- עקרונות פעולת ICP (באנגלית)
- הנחיות למשלוח דגימה לבדיקה (באנגלית)