X Ray Diffraction - XRD

English שלחו לחבר

אחת משיטות האפיון החשובות  ביותר בכימיה של מצב מוצק ובמדע חומרים. היא למעשה, השיטה הנפוצה והמקובלת ביותר לאנליזת פאזות איכותית וכמותית של חומרים גבישיים, והיא מאפשרת גם מציאת פרמטרי תא יחידה, קביעת גודל קריסטליטים ומידת עיוות הסריג (דפורמציות ורלקסציות) ואפילו אנליזה של מבנה גבישי. אנליזת הפאזות מסתמכת על מיקומי הפיקים (זוויות העקיפה של המישורים האטומיים) ועל עוצמותיהם (עוצמות הקרינה המוחזרת מהמישורים האטומיים השונים). 

מדידות דיפרקצית קרני X מבוצעת במרכז שלנו באמצעות מכשיר X-Ray Difraction (XRD), מודל D8 Advance, מחברת Bruker AXS, גרמניה.